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CRD 高反射率测量仪

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放大字体  缩小字体    发布日期:2022-12-20  来源:WKW |  作者:小球球  浏览次数:427
核心提示:
针对高反射率(R>99.7%)的光学样品,德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)CRD高反射率测量仪, 它通过对指数型腔内衰荡信号的检测,去掉了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差, 大大提高了测量精度。

CRD高反射率测量仪

CRD 高反射率测量仪原理

当一束脉冲激光沿着光轴入射到光腔内,忽略衍射及散射损耗,单色脉冲光在两个腔镜之间往返振荡,每经过一次循环透射出部分光,探测器通过接收光脉冲信号得到其以单指数形式衰减。

CRD高反射率测量仪

τ为衰荡时间,指光子出射脉冲光强衰减为初始光强的1/e时经历的时间。C代表光速,L是代表腔长,RM是两个腔镜的几何平均反射率,散射V和吸收系数α忽略不计。则,衰荡时间τ表示为:

CRD高反射率测量仪

从公式上可知,腔内损耗越小,反射率越高,衰荡时间越长。

要计算待测样品的反射率R,需要知道参考片的反射率Rref (详见参考片说明部分),则

CRD高反射率测量仪

CRD系统介绍

CRD高反射率测量仪

系统包含:

1. 激光光源

2. 光学零部件

3. A/D转换器

4. 探测系统

CRD高反射率测量仪

       原文标题 : CRD高反射率测量仪

 
 
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