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PCI-弱吸收

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放大字体  缩小字体    发布日期:2022-12-20  来源:WKW |  浏览次数:913
核心提示:
公司自主研发PCI弱吸收-共光路干涉弱吸收测量仪,PCI弱吸收测量精度高,单次测量可实现体和面吸收分开,测量速度快并可实现面扫描,可测量不同入射角的膜吸收。

PCI-弱吸收

特点

精度高:1 ppm

一次测量可以区分体、面吸收

扫描速度快(几分钟)

对样品规格要求不高

操作方便、简单

应用

光学薄膜

光学晶体材料

光学镜片

性能

测量晶体(LBO、YVO4、KTP...)或光学产品(K9、BK7、UVFS...)内部材料的弱吸收(体吸收)

测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收


       原文标题 : PCI-弱吸收

 
 
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