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热销HTRB 高温反偏老化设备
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  • ¥: 120000.00元/
  • 起订量:5
  • 可售数量: 10000
  • 支持批量采购
  • 发布时间:2019-03-25 11:46

产地:河南 郑州市 | 归属行业:试验箱及环境试验设备

有效期至:长期有效

联系人: 师先生

手机:13164369999

联系地址:中德产业园

商铺网址: http://xinanjt.okhy.cn/

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  • 发货期限:自买家付款之日起 天内发货
  • 所在地:河南 郑州市

品牌:其他型号:HTRB类型:高温反偏外箱材质:1.5㎜内胆材质:不锈钢温度范围:200℃温度波动度:1℃温度均匀度:1℃适用范围:半导体



以下是高温反偏设备大致技术参数及介绍

具体以客户需求最终合同为准

一、产品概述

   试验标准:符合国军标GJB128及美军标MIL-STD-750的相关要求。

   适用范围:适用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、轴向、径向等各种封装分立器件进行高温反偏试验:如各种二极管、三极管、场效应管、可控硅、桥堆等。

   试验通道:根据不同型号的高温箱配置,试验通道8-48个可选。


二、技术参数

 

 

技术参数

参数分类

参数名称

技术指标

试验箱

配置型号

高温箱一台,水平横向循环风道设计,温度更均匀,试验腔尺寸60cm×60cm×120cm。

试验温度

试验箱温度控制范围:环境温度~175℃;试验箱温度控制精度:≤±1℃;试验箱温度均匀度:≤±3℃。

温度保护

独立的温度检测、监测、超温报警系统,当试验箱温度超过设定的温度时,自动声报警并切断高温试验箱的供电电源;避免由于高温试验箱温度波动或失控造成被试验器件损坏,使试验箱工作处于多重保护状态。

温度记录

电脑实时检测、记录试验箱温度,实时描绘试验箱的温度-时间曲线,在整个试验过程中实时监控高温试验箱的温度,防止试验箱温度波动导致器件失效。

区域容量

试验区域

标配16个区。

试验通道

16个通道。

试验容量

80*16=1280个检测工位。

试验电源

电源配置

配置300V/1A(2路)、600V/1A(2路)的直流电源。

负载变化率

每台电源的负载变化率≦±1%+50mV,纹波(RMS)≦50mV。

电源保护功能

每台电源均可恒压、恒流工作,具有过压、过流、短路、过热等保护功能。

电源检测记录

电源输出均计算机在线检测,记录描述全过程试验电压曲线,便于试验监控。

其他

各种输出电压的电源规格可按要求选配。

驱动板检测

电压检测

检测范围

0-2000V。

检测精度

±2%±2LSB。

分辨率

0.1V(检测电压≤600V),0.3V(检测电压≤1000V),0.5V(检测电压≤2000V)。

漏电流检测

检测范围

100nA~50mA。

检测精度

2%±2LSB。

分辨率

100nA。

 

老化板

基板

根据用户要求选配,标配基板TG170,特殊高温可按要求定制。

老化座

老化座Socket均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳材料。

规格尺寸

280mm×600mm。

总线接口

100Pin+72Pin-2.54。

参数分类

参数名称

技术指标

保护功能

极性检测

试验前PN结极性检测,自动识别器件是否正确转入老化板。

保护功能

老炼回路具有瞬间高压吸收保护电路,防止被老炼器件击穿影响系统工作。

计算机

配置

主流配置工业计算机。

显示器

12.1英寸1024×768点阵TFT彩色液晶显示器。

输入方式

键盘、鼠标、触摸屏输入方式。

软件界面

Windows7中文菜单界面,操作友好、使用便捷。

数据记录

试验数据以文本、表格(Excel)、曲线等方式保存在硬盘中,供永久记录保存。

使用条件

工作温度

-5℃~40℃。

工作湿度

相对湿度:不大于80%。

供电要求

220V±10%(三相五线制)。

电网频率

50Hz±2Hz。

整机功耗

6KW。


另外可根据客户对产品电压以及其他地方的要求定做各种高温反偏设备,可以满足市面上所有半导体封装的高温反偏实验






        新安科技是伴随中国军工信息化浪潮而迅速发展起来的创新型企业,一直致力于推动试 验过程智能化、数据处理信息化、设备管理集中化。从而达到简化试验流程、提高设备利用 效率 、降低人力资源消耗、改善值班环境。


        新安科技坚持包容、求实、高效、创新的经营理念。以精湛技术、卓越品质、持续改进、顾客满意为质量方针,竭诚为广大客户提供优质的 产品和服务。 


        业务范围有试验监控系统、元器件老化系统、PCBA老化系统、元器件测试仪、 PCBA测试仪、CPCI测控板卡、试验数据管理系统、试验检测数据智能判读分析系统、可 视化仿真系统、测量测控系统等整体解决方案提供商与服务商。 ​


        行业日新月异的发展,各种新的产品不断的涌现,随着电子元器件的集成化程度的提高 和小型化的发展趋势,客户对产品品质要求也越来越高。


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