单晶少子寿命测试仪LT-2型 少数载流子测试仪

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品牌：其他型号：LT-2型类型：单晶少子寿命测试仪显示方式：数字型测量范围：>2Ω.cmΩ测试电压：.V电源：AC 220V，50Hz测量精度：.重复误差：校准周期：.环境温度：10-35℃相对湿度：< 80％加工定制：否外形尺寸：.mm重量：.㎏电阻率范围：>2Ω.cm寿命范围：5μS～7000μS测量方式：采用对标准曲线读数方式area class="lazyLoad">

LT-2型单晶少子寿命测试仪

LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。

技 术 指 标 ：