SC-E大米外观品质检测仪

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硬件规格

光学分辨率

4800×9600 dpi

根系透扫幅面积

30 cm×20 cm

最小像素尺寸

0.0053mm ×0.0026 mm

软件功能

分析测量

1）  可自动一次性测量分析30g以上大米样品的：垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、大米透明度、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率，以及糙米胚芽率。

2）  自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.05mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02；整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%）。

3）  可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013等标准相对应，检测各项指标的重量比和粒数比。

4）  各分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图。

5）  具有自动学习与识别特性，可自动分割粘连的大米、种粒，可做自动分类分析。

6）  具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒直径范围0.3-20mm（最厚15 mm），自动测量精度≥99%，交互修正后准确率达100%。